NI最新模块化仪器套件有效扩展PXI系统在半导体测试领域中的应用

2009年11月，NI近日发布10款最新PXI产品，有效扩展PXI进行混和信号半导体测试的功能。全新以软件定义的产品套件专为NI LabVIEW图形化开发系统而设计，包含四个高速数字I/O（HSDIO）仪器、两个数字开关、两个增强射频仪器、一个高精度源测量单元（SMU）和专用数字数字矢量文件导入软件。全新的NI PXI半导体套件包含多种新特性，包括200 MHz单端数字I/O、10 pA电流分辨率、快速多频带射频测量、直流/数字开关和波形发生语言（WGL）以及IEEE 1450标准测试接口语言（STIL）文件导入功能。


PXI半导体套件进一步提升了PXI系统测试通用半导体设备的性能，例如测试ADC、DAC、电源管理IC、无线IC和微电机系统（MEMS）设备。由于其配备的高级功能，相比常用于半导体设备的特征采集、验证和生产测试的传统箱式仪器和自动化测试设备（ATD）解决方案，这个套件提供了更高的吞吐量、更强的灵活性和更快的开发时间。


“来自NI的全新混和信号PXI仪器套件能够导入WGL和STIL设计向量，验证我们IC设计的数字协议和关键时间参数。PXI和LabVIEW为我们提供了灵活的混和信号特征提取平台，可以用来快速配置定制的测试，降低产品总开发时间和评估成本。”